Lütfen cihazı dikey konumda tutunuzLütfen cihazı dikey konumda tutunuzİnsanoğlunun tüm yaşamını etkileyecek nanoteknoloji alanındaki çalışmalar, devrim niteliğinde değerlendiriliyor. Metrenin milyarda biri anlamına gelen nanometre boyutundaki malzemelerin incelenmesi, üretilmesi, geliştirilmesi bilim ve teknolojide yeni ufuklar açıyor. Dünyada nanometre ölçeğindeki fiziksel, kimyasal ve biyolojik olayların araştırılması amacıyla fonksiyonel materyaller, cihazlar ve sistemler geliştiriliyor.
Türkiye pazarında İncekara ile yerini alan Veeco Instruments Inc. dünya çapında veri saklama, HB-LED ve bilimsel araştırma pazarlarında nanoskaladaki aplikasyonlar için çözümler üretiyor. New York, New Jersey, California, Colorado, Arizona ve Minnesota’da ürün geliştirme merkezleri bulunan Veeco firmasının A.B.D, Avrupa, Japonya ve Asya-Pasifik’de de satış ve servis ofisleri yer alıyor.
diCaliber SPM
• Kompakt, Taşınabilir Dizayn
• Esnek, Açık-Donanım
• Close-Loop Tarama Özelliği
• Numune Boyutlarında Farklı Görüntüleme
Kompakt yapısı ile büyük taramalı uç mikroskobu özelliklerine sahip Veeco firmasının YENİ mini-SPM Caliber, malzeme ve yüzey bilimi polimer çalışmaları için sunduğu esnek çözümler ile pazara yeni bir soluk getirmiştir.
Caliber sistemi geniş kapsamlı araştırma ve endüstri uygulamalarında, numune boyutuna bağlı kalmadan, her boyuttaki numunelerde close-loop tarama kapasitesine sahiptir. Düşük fiyatı ve kompakt yapısı sayesinde kullanıcılara Veeco kalitesini ve teknolojisini sunmaktadır.
Caliber sisteminin açık platform ve close-loop dizaynı, kullanıcıya hardware üzerine eklemeler yaparak ve elektroniklerini optimize ederek mükemmel bir aplikasyon çeşitliliği sağlamaktadır. Gerçek zamanlı bir yazılım, line-by-line analiz, osiloskop, FFT ve seviye fonksiyonları da sistemin ekstra özellikleri arasında yer almaktadır.
diInnova SPM
• Yüksek Çözünürlüklü Close-Loop Sistemi
• Hızlı, Kolay Uç ve Numune Değişimi
• Çok Amaçlı Kullanım
• Güçlü Araştırma Esnekliği
Dünyanın en büyük Atomik Kuvvet Mikroskobu üreticisi olan Veeco Instruments Inc. geniş skalada fizik, malzeme ve yaşam bilim aplikasyonları için geliştirdiği Innova SPM sistemini, 2007 yılının ikinci yarısında lanse etmiştir.
Düşük gürültü seviyesi, close-loop tarama özelliği, yüksek çözünürlüğü, 90 derece optik aksamı ve sunduğu fiyat avantajı ile YENi Innova SPM, benzer performanstaki sistemler arasında ön plana çıkmaktadır.
Innova SPM ile ulaşılan çözünürlük seviyesi çok daha pahalı sistemler ile eşit seviyededir. Ayrıca bu yeni sistem mevcut bütün modları çalışabilme kapasitesi ile çok geniş bir aplikasyon alanına hitap etmektedir. Bütün bu özellikleri ve kompakt yapısı sayesinde, limitli bütçe ve kullanım alanına sahip, gelişmiş AFM teknolojisine ihtiyacı olan laboratuvarlar için çok uygundur.
Open-loop sistemlerin ulaştığı gürültü seviyelerine, close-loop sisteminin avantajları ile inebilen Innova SPM, tam alan taraması esnasında taramanın herhangi bir kısmında, probu numuneden uzaklaştırmadan atomik çözünürlüğe inebilmektedir.
diMultimode V
• Yeni Yüksek-Hızlı Kontrol Ünitesi
• Süper Tarama Performansı
• Modüler Dizayn / Çevresel Kontrol
Veeco firmasının SPM tarihindeki en çok satılan sistemi olan Multimode, sunduğu en üst düzey teknolojisi ile dünyadaki bütün SPM sistemlerinin toplamından daha fazla bilimsel çıktı üretmiştir. Bu sistemlerin yeni jenerasyonu olan Multimode V sistemi, dünyanın en yüksek çözünürlüğüne sahip taramalı uç mikroskobudur. Sistem yeni versiyonunda dünyanın en hızlı veri toplama kapasitesi (50MHz), artırılmış termal ayar kapasitesi ve yüksek piksel yoğunluklu görüntüleme sayesinde aynı numunede hem büyük yapıları, hem de küçük detayları inceleme olanağı sağlamaktadır. Sistem eş zamanlı olarak sekiz görüntüyü yakalayabilmektedir.
Multimode V sistemi mevcut bütün AFM ve STM tekniklerini uygulama ve yüzey karakteristiklerini (topografi, esneklik, sürtünme, yapışma ve manyetik/elektriksel alanlar) ölçme kapasitesine sahiptir. Sistem prop ile numune arasındaki mekanik uzaklığı çok kısa tutarak dünyanın en hızlı tarama yapma kapasitesine ulaşmıştır.
